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中山大學(xué)王鋼教授團(tuán)隊(duì):基于ε-Ga?O?(001)薄膜的表面聲波諧振器的各向同性性能

由中山大學(xué)王鋼教授、陳梓敏副教授團(tuán)隊(duì)在學(xué)術(shù)期刊 Applied Surface Science 發(fā)布了一篇名為 Isotropic performance of surface acoustic wave resonators based on ε-Ga2O3(001) thin films(基于 ε-Ga2O3 (001) 薄膜的表面聲波諧振器的各向同性性能)的文章。

1. 項(xiàng)目支持

本研究得到了國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(編號(hào):62074167)、國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃項(xiàng)目(編號(hào):2023YFF1500700)、廣東省重點(diǎn)領(lǐng)域研發(fā)計(jì)劃項(xiàng)目(編號(hào):2021B0101300005)的資助。

2. 背景

如今,SAW 器件以其體積小、制造成本低、靈敏度高和穩(wěn)定性好等特點(diǎn),在傳感、檢測、無線通信等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。基于 AlN(Eg = 6.2 eV,d33≈5 pm/V)和 ZnO(Eg = 3.3 eV,d33 ≈12.3 pm/V)等半導(dǎo)體薄膜的諧振器裝置受到越來越多的關(guān)注;然而,AlN 的壓電系數(shù)太低,無法在射頻諧振器中提供較高的機(jī)電耦合系數(shù),而 ZnO 的帶隙不夠?qū)?,無法有效抑制漏電流。最近,ε-Ga2O3(Eg = 4.9 eV,d33 ≈11 pm/V)被證明是一種新型壓電半導(dǎo)體,具有聲阻抗小、帶隙寬和壓電系數(shù)高等特點(diǎn),是射頻諧振器應(yīng)用的有力競爭者。

3. 主要內(nèi)容

ε相氧化鎵(ε-Ga2O3)薄膜是一種新興的壓電半導(dǎo)體材料,具有在射頻諧振器中的應(yīng)用潛力。與傳統(tǒng)薄膜材料如AlN(d33 ≈ 5 pm/V)相比,ε-Ga2O3 具備更高的壓電系數(shù)(d33 ≈ 11 pm/V)。作為一種屬于正交晶系的材料,理論上 ε-Ga2O3 在 (001) 晶面上應(yīng)表現(xiàn)出各向異性。然而,本研究對(duì)表面聲波(SAW)傳播特性的角度依賴性進(jìn)行系統(tǒng)分析后發(fā)現(xiàn),ε-Ga2O3 (001) 晶面實(shí)際上表現(xiàn)出高度各向同性。對(duì) ε-Ga2O3 (001) 晶面不同晶向下的靜電、力學(xué)及熱力學(xué)特性進(jìn)行測量后發(fā)現(xiàn),其標(biāo)準(zhǔn)差均小于 3%。通過電容測量提取的介電常數(shù)為 11.7 ± 0.1。對(duì)于 Rayleigh 模式的 SAW 諧振器,相速度與頻率溫度系數(shù)(TCF)分別為 3169 ± 4 m/s 和 −58.9 ± 1.7 ppm/°C;而對(duì)于 Sezawa 模式,則分別為 5319 ± 11 m/s 和 −58.9 ± 1.2 ppm/°C。這種正交晶系材料所表現(xiàn)出異常的各向同性可歸因于其內(nèi)部存在三重旋轉(zhuǎn)疇結(jié)構(gòu)。本研究結(jié)果為 ε-Ga2O3 基 SAW 器件的未來發(fā)展與應(yīng)用提供了關(guān)鍵基礎(chǔ)參數(shù)支持。

4. 創(chuàng)新點(diǎn)

● 本文制備并研究了基于 ε-Ga2O3 的表面聲波(SAW)諧振器,重點(diǎn)探討其靜電特性、力學(xué)特性及熱力學(xué)性能。

● 在 ε-Ga2O3 (001)上制備的 SAW 器件表現(xiàn)出異常的各向同性特性,該現(xiàn)象可歸因于 ε-Ga2O薄膜中存在三重旋轉(zhuǎn)疇結(jié)構(gòu)。

● 本研究還報(bào)道了 ε-Ga2O3 的基礎(chǔ)參數(shù),包括介電常數(shù)、相速度以及頻率的溫度系數(shù)(TCF)。

5. 結(jié)論

本研究在 (001) 晶面上系統(tǒng)研究了不同傳播角度(θ)下 ε-Ga2O3 基表面聲波(SAW)諧振器的性能與特性。通過 X 射線衍射(XRD)對(duì) ε-Ga2O3 薄膜的結(jié)構(gòu)性質(zhì)進(jìn)行表征,其搖擺曲線半高寬(FWHM)為 0.19°,表明薄膜具有較高的結(jié)晶質(zhì)量。(122) 晶面的 φ 掃描結(jié)果顯示該薄膜存在三重旋轉(zhuǎn)疇結(jié)構(gòu)。SAW 器件的性能通過靜態(tài)電容(Cexp)、相速度(v)、Bode-Q 值、品質(zhì)因數(shù)(FOM)以及頻率溫度系數(shù)(TCF)等參數(shù)進(jìn)行評(píng)估。在 (001) 面不同傳播方向上的各項(xiàng)測試中,所得到的結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)差極小,可忽略不計(jì)。提取得到 ε-Ga2O3 的介電常數(shù)為 11.7 ± 0.1。在 Rayleigh 模式下,其相速度和 TCF 分別為 3169 ± 4 m/s 和 –58.9 ± 1.7 ppm/°C;在 Sezawa 模式下分別為 5319 ± 11 m/s 和 –58.9 ± 1.2 ppm/°C。實(shí)驗(yàn)結(jié)果全面證明了 ε-Ga2O3 (001) 薄膜的各向同性特性,這種現(xiàn)象可以用三重旋轉(zhuǎn)疇結(jié)構(gòu)的存在來解釋。

圖 1. (a) 生長樣品的光學(xué)顯微鏡圖像 (b) 其SEM圖像和 (c) AFM圖像。(d) 藍(lán)寶石上生長的ε-Ga2O樣品的 XRD 2θ 掃描和(e)搖擺曲線。(f)ε-Ga2O3(001)薄膜的 XRD φ 掃描。12 個(gè)衍射峰分為三組,每組衍射峰用不同顏色的圓圈表示。(g) 襯底與外延層之間的原子排列示意圖,顯示三組旋轉(zhuǎn)疇。

圖2。(a)沿不同方向在 ε-Ga2O3(001)薄膜上制造的諧振器的示意圖。θ表示SAW傳播方向與藍(lán)寶石<10-10>方向之間的角度。(b-d)SAW諧振器的結(jié)構(gòu)圖。諧振器的電極周期為2.4μm,外延層厚度為1.32μm。(e)SAW諧振器沿不同傳播方向的散射參數(shù)。(f)在共振頻率Rayleigh模式(1295.7 MHz)和Sezawa模式(2280.9 MHz)下模擬的SAW能量位移。

DOI:

doi.org/10.1016/j.apsusc.2025.163959

本文轉(zhuǎn)發(fā)自《亞洲氧化鎵聯(lián)盟》訂閱號(hào)